NF C80-201-2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验.
作者:标准资料网
时间:2024-05-04 21:19:45
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Constantcurrentelectromigrationtest.
【原文标准名称】:半导体器件.恒定电流电迁移试验.
【标准号】:NFC80-201-2010
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2010-11-01
【实施或试行日期】:2010-11-27
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Constantcurrentload;Continuouscurrent;Currentdensity;Definitions;Electricconductors;Electriccontacts;Electriccurrent;Electricfields;Electricalengineering;Electromigration;Failure;Ions;Metalbond;Migration;Semiconductordevices;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.恒定电流电迁移试验.
【标准号】:NFC80-201-2010
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2010-11-01
【实施或试行日期】:2010-11-27
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Constantcurrentload;Continuouscurrent;Currentdensity;Definitions;Electricconductors;Electriccontacts;Electriccurrent;Electricfields;Electricalengineering;Electromigration;Failure;Ions;Metalbond;Migration;Semiconductordevices;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P;A4
【正文语种】:其他
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