JB 1494-1974 有机薄膜密度试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-20 10:52:01 浏览:8498 来源:标准资料网

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所属分类：电工电工材料和通用零件电工绝缘材料及其制品

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标准名称：	半导体器件集成电路第2-10部分：数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范
英文名称：	Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits—Blank detail specification of integrated circuit dynamic read/write memories
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
ICS分类：	电子学 >> 电子电信设备用机电零部件
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：	2003-01-01
实施日期：	2004-08-01
首发日期：	2003-11-24
作废日期：	1900-01-01
主管部门：	信息产业部（电子）
提出单位：	中华人民共和国信息产业部
归口单位：	全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：	中国电子技术标准化研究所（CESI）
起草人：	王琪、李燕荣
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2004-08-01
页数：	16开，页数：15，字数：29千字
书号：	155066.1-20631

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